- 質構儀TA.XTC應(ying)用實例(li)——餅幹制品(pin)
- 發(fa)布日期(qi)：2016-12-05 瀏覽(lan)次(ci)數(shu)：3631
產(chan)品名稱(cheng)：
餅幹
實驗(yan)標(biao)題：
摘(zhai) 要(yao)：
作(zuo)者單(dan)位(wei)：
關(guan) 鍵 字(zi)：
試(shi)驗(yan)儀器(qi)：
利用質構儀TA.XTC來確(que)定餅幹的硬度(du)
選用餅幹物性測定儀來(lai)進(jin)行餅幹硬度的測定。測定過(guo)程(cheng)中(zhong)要(yao)進(jin)行(xing)力(li)量(liang)感(gan)應(ying)元,探頭測定條件(測試(shi)前速(su)度(du),測定速度(du).測試(shi)後(hou)速度(du))的篩選(xuan),保(bao)證實驗(yan)的重復性夠好(hao),數(shu)據(ju)可用.
上(shang)海(hai)保聖實業(ye)發(fa)展(zhan)有(you)限(xian)公司(si)
質構儀;TA.XTC質構儀;餅幹;餅幹硬度
上(shang)海(hai)保聖質構儀TA.XTC
試(shi)驗(yan)目的 硬件 試(shi)驗(yan)圖像 通過(guo)切(qie)削確定餅幹的硬度(du) 質構儀:
通過(guo)下(xia)壓（穿(chuan)刺）來確(que)定餅幹的硬度(du) 質構儀
上(shang)海(hai)保聖TA.XTC
通過(guo)切(qie)削確定巧(qiao)克(ke)力外層餅幹的抗力 質構儀：上(shang)海(hai)保聖TA.XTC
可以利用不(bu)同的探頭測試(shi)不(bu)同類(lei)餅幹的硬度(du)、酥脆性、咀嚼(jiao)性等指(zhi)標(biao) - 上(shang)壹(yi)篇：質構儀TA.XTC應(ying)用實例(li)——大(da)米
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